高效绿色InP基二极管的电子注入与泄漏调控研究
https://doi.org/10.1038/s41586-024-08197-z
一、研究背景与挑战
量子点发光二极管(QD-LED)因高量子效率和优异单色性,被视为下一代显示与照明技术核心。含镉(Cd)QD-LED因毒性受限,无镉材料(如InP、ZnSe)成为理想替代。
红色InP基和蓝色ZnTeSe QD-LED已实现超20%外量子效率(EQE),但绿色InP基QD-LED因采用InP–ZnSeS–ZnS结构,ZnSeS中间层高电子注入势垒导致电子浓度不足,效率低(16.3%)、寿命短,制约无镉QD-LED发展。
二、关键发现:ZnSe中间层调控电子行为
通过电激发瞬态吸收光谱(EETA)发现,ZnSeS中间层使绿色InP基QD-LED电子浓度仅0.09(红色器件0.50),低于高效辐射复合阈值。提出两步策略:
降低注入势垒:用纯ZnSe替代ZnSeS中间层,利用其更低导带底能级,提升电子注入效率,浓度增至0.15以上。
抑制电子泄漏:增加ZnSe层厚度(2.5 nm→4.0 nm),量子隧穿模型(WKB近似)表明,厚ZnSe层在保持高注入概率的同时,大幅降低泄漏概率,注入/泄漏概率比提升3倍以上。
三、器件性能突破
优化后绿色InP基QD-LED(543 nm)性能显著提升:
效率:峰值EQE达26.68%,较此前最优值提升63%,超同类器件1.6倍。
寿命:初始亮度1000 cd/m²时,\(T_{95}\)寿命1241小时,较此前记录提升165倍。
亮度与驱动电压:最大亮度超270,000 cd/m²,开启电压低至2.1 V,接近含镉QD-LED的高效注入水平。
四、在器件中的作用
PF8Cz(聚(9,9-二辛基芴-2,7-二基)-alt-(9-(2-乙基己基)-咔唑-3,6-二基))作为空穴传输层(HTL)材料:
空穴传输与积累调控:旋涂于PEDOT:PSS层上形成均匀薄膜,促进空穴从阳极(ITO)向量子点层传输。EETA显示,厚ZnSe层使HTL信号饱和而非下降,表明电子泄漏抑制,空穴注入更稳定。
界面能级匹配:能级结构与InP量子点价带匹配,减少空穴注入势垒,其高玻璃化转变温度和良好成膜性提升器件稳定性,避免界面缺陷导致的非辐射复合。
五、理论模型与机制解析
结合WKB量子隧穿模型,ZnSe中间层厚度增加虽略微降低注入概率,但对泄漏概率的抑制更显著(泄漏概率随厚度增加呈指数下降),实现净电子浓度提升。实验与模型模拟吻合,证明调节壳层材料与厚度可精准控制载流子行为。
六、结论与展望
研究通过EETA明确绿色InP基QD-LED效率瓶颈,经材料替换与结构优化,实现效率与寿命双重突破。PF8Cz辅助空穴传输与界面能级平衡。该策略为无镉QD-LED设计提供普适指导,有望推广至蓝色QD-LED等体系,推动全色系高效环保QD-LED应用。